| 发明名称 |
TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR CELL |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS61189473(A) |
申请公布日期 |
1986.08.23 |
| 申请号 |
JP19850227940 |
申请日期 |
1985.10.15 |
| 申请人 |
INTERNATL BUSINESS MACH CORP |
发明人 |
ROI CHIYAIRUZU FUREEKAA;RATSUSERU JIEEMUZU HOOTON |
| 分类号 |
G01R31/30;G01R31/28;G11C29/00;G11C29/04;G11C29/50 |
主分类号 |
G01R31/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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