发明名称 PROCEDE DE REALISATION DE DEUX STRUCTURES MOS A DIELECTRIQUES JUXTAPOSES DIFFERENTS ET DOPAGES DIFFERENTS ET MATRICE A TRANSFERT DE TRAME OBTENUE PAR CE PROCEDE
摘要 <P>LA PRESENTE INVENTION CONSISTE A DEPOSER UNE COUCHE 1 DE SILICIUM POLYCRISTALLIN DOPEE SUR UN DIELECTRIQUE EN SILICE QUI L'ISOLE DU SUBSTRAT. UNE PHOTOLITHOGRAVURE PERMET DE DEFINIR LES ZONES DESTINEES A SUBIR UNE IMPLANTATION IONIQUE POUR LE CANAL ENTERRE 11, LES ZONES A PROTEGER ETANT MASQUEES PAR LE SILICIUM RESTANT.</P><P>UNE DOUBLE COUCHE SILICE-NITRURE 12, 13 EST FORMEE APRES LA MISE A NU DU SUBSTRAT DANS LES REGIONS IMPLANTEES.</P><P>UNE PHOTOLITHOGRAVURE DE LA DOUBLE COUCHE SILICE-NITRURE PERMET L'ACCES AU PREMIER NIVEAU DE SILICIUM D'UNE DEUXIEME COUCHE DE SILICIUM DOPEE 9.</P><P>LA PHOTOLITHOGRAVURE DE L'ENSEMBLE DES DEUX SILICIUMS PERMET DE REALISER DIVERSES STRUCTURES DANS LESQUELLES PAR EXEMPLE LA ZONE DE TRANSITION DES DEUX DIELECTRIQUES EST SITUEE SOUS LA MEME GRILLE OU ENCORE DANS LESQUELLES PAR EXEMPLE LA ZONE DE TRANSITION EST AUTO-ALIGNEE A UNE GRILLE.</P><P>MATRICES A TRANSFERT DE TRAME.</P>
申请公布号 FR2577715(A1) 申请公布日期 1986.08.22
申请号 FR19850002366 申请日期 1985.02.19
申请人 THOMSON CSF 发明人 PIERRE BLANCHARD
分类号 H01L29/78;H01L21/339;H01L21/8234;H01L27/148;H01L29/417;H01L29/76;H01L29/762;H01L29/772;(IPC1-7):H01L21/82;H01L21/28 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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