SCHALTUNG ZUR MESSUNG DER RAUSCHCHARAKTERISTIKEN VON ELEKTRONISCHEN KOMPONENTEN.,申请号AT19840200455T-传众专利搜索

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发明名称	SCHALTUNG ZUR MESSUNG DER RAUSCHCHARAKTERISTIKEN VON ELEKTRONISCHEN KOMPONENTEN.
摘要
申请公布号	AT21283(T)	申请公布日期	1986.08.15
申请号	AT19840200455T	申请日期	1984.03.29
申请人	CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS)	发明人	BLASQUEZ, GABY;TOSI, ROLAN;BORREIL, JOEL
分类号	G01R29/26;G01R31/26;(IPC1-7):G01R29/26	主分类号	G01R29/26
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