| 发明名称 |
SYSTEME DE TEST DE LA DEFAILLANCE OU DU BON FONCTIONNEMENT D'UN CIRCUIT A COMPOSANTS LOGIQUES |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
FR2568015(B1) |
申请公布日期 |
1986.08.08 |
| 申请号 |
FR19840011388 |
申请日期 |
1984.07.18 |
| 申请人 |
COMMISSARIAT A ENERGIE ATOMIQUE |
发明人 |
ANDRE LAVIRON |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/317;G06F11/22;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
