发明名称 Method and device for inspecting transparent strip material, in particular flat glass ribbons.
摘要 <p>Verfahren zum Prüfen von transparenten Materialbahnen, insbesondere Flachglasbändern oder dergleichen, auf Materialfehler, bei dem das in seiner Längsrichtung transportierte Glasband oder dergleichen über seine Breite in einer senkrecht zu seiner Transportebene und senkrecht zu seiner Transportrichtung liegenden Scanebene mit einem lasererzeugten fliegenden Lichtpunkt abgetastet, die durch die Einschlüsse erzeugte Vorwärts- und Rückwärts-Streustrahlung in jeweils einer zur Scanebene geneigten Detektionsebene gemessen, aus den erhaltenen Meßwerten elektrische Signale abgeleitet und diese zur Materialfehleridentifizierung verarbeitet werden, dadurch gekennzeichnet, daß als Lichtpunktquelle ein im nahen IR-Bereich arbeitender Laser verwendet wird, sowie Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens.</p>
申请公布号 EP0189551(A1) 申请公布日期 1986.08.06
申请号 EP19850115168 申请日期 1985.11.29
申请人 FLACHGLAS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BARTELSEN, LUTZ, DR. DIPL.-PHYS.
分类号 G01N21/89;G01N21/3563;G01N21/359;G01N21/896;G01N21/93;(IPC1-7):G01N21/89 主分类号 G01N21/89
代理机构 代理人
主权项
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