发明名称 | 监控光学镀膜厚度的双光束光学系统 | ||
摘要 | 监控光学镀膜厚度的双光束光学系统形式上和已有的单接收器单光路监控光学系统相同,差别是在角可变滤光片(或单色仪出狭缝)之后置一块等双孔光栏,分单束光为参考和测量两束光,再用双排孔调制扇分别调制这两束光,于是构成全对称双光束光学系统。它使电子学系统容易解决基线平直度、漂移、噪声、杂光信号和电磁场信号干扰,以致于真空室窗口溅射膜的影响都可以完全消除。 | ||
申请公布号 | CN85101725A | 申请公布日期 | 1986.08.06 |
申请号 | CN85101725 | 申请日期 | 1985.04.01 |
申请人 | 中国科学院长春光学精密机械研究所 | 发明人 | 王占青 |
分类号 | C23C14/54;G01B11/06 | 主分类号 | C23C14/54 |
代理机构 | 中国科学院长春专利事务所 | 代理人 | 刘树清 |
主权项 | 1、一种监控光学镀膜厚度的双光束光学系统是由光源、单色仪、光栏、调制扇、接收器及光学元件组成。其特征在于采用等双孔光栏[4]和双排孔调制扇[5]。 | ||
地址 | 吉林省长春市斯大林大街112号 |