发明名称 RELAY TESTING CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPS61151926(A) 申请公布日期 1986.07.10
申请号 JP19840276018 申请日期 1984.12.25
申请人 FUJITSU LTD 发明人 IKEUCHI SATOSHI;SUZUKI HAYASHI
分类号 H01H47/00 主分类号 H01H47/00
代理机构 代理人
主权项
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