Integrated semiconductor memory.

摘要

Ein Halbleiterspeicher ist in mehrere gleiche Zellenfelder aufgeteilt. Zum Testen können die Zellenfelder parallel beschrieben und ausgelesen werden. Dazu erfaßt eine in den Speicher integrierte Auswerteschaltung AS die ausgelesenen Daten. Sind die Daten fehlerfrei, so setzt sie am Datenausgang ein "Gut"-Signal, ansonsten ein Fehlersignal.