发明名称 (B1) ;OPTO-ELECTRONIC MEASURING PROCESS, APPARATUS THEREFOR AND ITS USE
摘要 <p>Mittels einer Lichtquelle (3) mit einem Linsensystem (7) wird ein vorzugsweise paralleler Lichtstrahl erzeugt, durch welchen an einer Kante (2) des zu prüfenden Teiles (1) ein Beugungsbild (8) entsteht. Dieses Beugungsbild (8) wird an einem Sensor (4) abgebildet und in elektrische Signale umgewandelt. Die Signale werden in einer, Rechner aufweisenden, Auswerteinrichtung (6) zugeleitet und daraus die Lage und/oder Kontur der zu messenden Kante (2) berechnet, wobei ein Vergleich mit einem theoretisch berechneten und eingespeicherten Beugungsbild stattfindet.</p>
申请公布号 EP0185167(A1) 申请公布日期 1986.06.25
申请号 EP19850113429 申请日期 1985.10.23
申请人 GEORG FISCHER AKTIENGESELLSCHAFT 发明人
分类号 G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24;G01B11/30 主分类号 G01B11/00
代理机构 代理人
主权项
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