METHOD OF TESTING OPEN CIRCUIT IN DAMPING DIODE IN CIRCUIT WITH ELECTROMAGNETIC LOAD,申请号SU19843782467-传众专利搜索

发明名称	METHOD OF TESTING OPEN CIRCUIT IN DAMPING DIODE IN CIRCUIT WITH ELECTROMAGNETIC LOAD
摘要
申请公布号	SU1233061(A1)	申请公布日期	1986.05.23
申请号	SU19843782467	申请日期	1984.08.17
申请人	ZABOLOTSKIKH VIKTOR G,SU;SERYAKOV ALEKSANDR G,SU;TSYRKIN VALERIJ N,SU;SHUMILOV VIKTOR V,SU	发明人	ZABOLOTSKIKH VIKTOR G,SU;SERYAKOV ALEKSANDR G,SU;TSYRKIN VALERIJ N,SU;SHUMILOV VIKTOR V,SU
分类号	G01R31/27;G01R31/02;(IPC1-7):G01R31/02	主分类号	G01R31/27
代理机构		代理人
主权项
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