| 摘要 |
Procédé et système d'amélioration de la fiabilité d'un système électronique (20) constitué de sous-systèmes (22) qui exécutent des fonctions différentes. Le système électronique (20) est analysé pour déterminer lequel des sous-systèmes (22) est le plus à même de provoquer une panne du système et ces sous-systèmes (22) sont pris comme cibles par un microcontrôleur (28) à des fins de contrôle et/ou correction. Le microcontrôleur contrôle les entrées (IN) et les sorties (OUT) des sous-systèmes-cibles (22) et détermine si une sortie (OUT) est inappropriée pour l'entrée correspondante (IN). Lorsqu'une erreur est détectée, un code d'erreur est stocké dans la mémoire (36) comme référence future. Lorsque le microcontrôleur est dans un mode de correction, des circuits d'attaque collecteurs ouverts (42, 44) sont utilisés pour effectuer des corrections d'erreur dans une sortie numérique. Lorsque l'erreur produite est pour une sortie analogique, un circuit convertisseur numérique/analogique (46) et des suiveurs de tension (48) sont utilisés pour imprimer le signal analogique correct sur la sortie inappropriée. Le procédé et le système s'appliquent en particulier à des systèmes d'armement en raison des éventuelles défaillances critiques que ces systèmes peuvent encourir et de l'espace limité disponible pour l'utilisation de réseaux de circuit redondants pour améliorer la fiabilité. En particulier, le procédé et le système peuvent s'appliquer à une unité de commande de gyroscope (GCU) et à une unité de contrôle de commande (CCU) d'une torpille pour contrôler et/ou corriger des défaillances dans ces systèmes. |
