TEST APPARATUS FOR FUNCTION OF INTEGRATED CIRCUIT, ETC.,申请号JP19850207705-传众专利搜索

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发明名称	TEST APPARATUS FOR FUNCTION OF INTEGRATED CIRCUIT, ETC.
摘要
申请公布号	JPS6180065(A)	申请公布日期	1986.04.23
申请号	JP19850207705	申请日期	1985.09.19
申请人	SIEMENS AG	发明人	RAINHORUTO BETSUKAA
分类号	G01R31/02;G01R1/073	主分类号	G01R31/02
代理机构		代理人
主权项
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