发明名称 METHOD OF INSPECTING DC MAGNETIC FLUX PARAMETRON IC
摘要
申请公布号 JPS6177378(A) 申请公布日期 1986.04.19
申请号 JP19840198550 申请日期 1984.09.25
申请人 HITACHI LTD;RIKAGAKU KENKYUSHO 发明人 KAWABE USHIO;GOTO HIDEKAZU;HARADA YUTAKA;NISHINO JUICHI
分类号 H03F7/00;H01L39/22;H01L39/24 主分类号 H03F7/00
代理机构 代理人
主权项
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