发明名称 AUTOMATED CIRCUIT TESTER
摘要 <p>Un contrôleur automatisé de circuits intégrés est construit comme un automate fini. Des programmes de tests complets sont stockés dans une mémoire d'état (10). Un générateur (21) est commandé par la mémoire d'état (10) et produit des adresses pour celle-ci. Un état de test complet peut être établi en utilisant l'information contenue à une seule adresse de la mémoire d'état (10). Des dispositifs permettent de charger des programmes de test à partir d'un ordinateur local, (11), qui servent également pour enregistrer des données sans interférer avec l'exécution du test. Un mode préféré de réalisation fournit des possibilités de contrôle paramétrique du courant alternatif et du courant continu par un contrôleur pouvant comporter jusqu'à 256 broches. Une seule unité de force et de mesure (28) est connectée à chaque broche.</p>
申请公布号 WO8602166(A1) 申请公布日期 1986.04.10
申请号 WO1985US01711 申请日期 1985.09.09
申请人 MOTOROLA, INC. 发明人 LITTLEBURY, HUGH;SWAPP, MAVIN
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G01R31/319;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址