| 发明名称 |
Measuring characteristics of transistors or diodes |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
GB2165363(A) |
申请公布日期 |
1986.04.09 |
| 申请号 |
GB19850022462 |
申请日期 |
1985.09.11 |
| 申请人 |
* SONY/TEKTRONIX CORPORATION |
发明人 |
RYOICHI * SAKAI |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R19/00;G06G7/28 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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