| 发明名称 |
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING JOINED STATUS OF TERMINALS OF CIRCUIT PARTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS6165175(A) |
申请公布日期 |
1986.04.03 |
| 申请号 |
JP19840186331 |
申请日期 |
1984.09.07 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
HIROI TAKASHI;NINOMIYA TAKANORI;NAKAGAWA YASUO |
| 分类号 |
G01R31/26;G01H9/00;G01N29/04;G01N29/12 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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