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Die Erfindung betrifft eine Einrichtung für die Funktionsprüfung integrierter Schaltkreise, bei der die zu prüfenden Schaltkreise (IC) über Adapter an rechnergesteuerte Testköpfe (T1, T2) anschließbar sind. Zur Flexibilisierung und Steigerung der Wirtschaftlichkeit der Testeinrichtung ist ein Prüflng (IC) mit großer Zahl externer Anschlüsse über einen Sonderadapter (S) an mindestens zwei nebeneinanderstehende Testköpfe (T1, T2) anschließbar und von diesen gemeinsam prüfbar oder/und sind zwei oder mehr Prüflinge (IC', IC") kleinerer Anschlußzahl über einen Sonderadapter (S') an einen Testkopf (T) anschließbar und gemeinsam prüfbar. Ferner betrifft die Erfindung zugehörige Betriebsverfahren.
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