| 发明名称 |
Electron impact ion source for trace analysis |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
US4579144(A) |
申请公布日期 |
1986.04.01 |
| 申请号 |
US19830472257 |
申请日期 |
1983.03.04 |
| 申请人 |
UTI INSTRUMENT COMPANY |
发明人 |
LIN, KUO-CHIN;PICKETT, FREDRICK P. |
| 分类号 |
G01N30/72;H01J49/04;H01J49/14;H01J49/24;(IPC1-7):F04B37/14;F04B37/00;H01J47/02 |
主分类号 |
G01N30/72 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
