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发明名称 ARRANGEMENT FOR TESTING MICROCIRCUIT COMPONENTS AND METHOD OF CARRYING IT OUT
摘要
申请公布号 EP0107771(B1) 申请公布日期 1986.03.12
申请号 EP19830109002 申请日期 1983.09.12
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 LISCHKE, BURKHARD, PROF. DR.;FROSIEN, JURGEN, DR. ING.;SCHMITT, REINHOLD, DIPL.-ING.
分类号 G01R31/02;G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R1/073 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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