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发明名称
METHOD OF TESTING OF HOMOGENEITY OF CATHODES OF CATHODE-RAY DEVICES
摘要
申请公布号
PL136293(B1)
申请公布日期
1986.02.28
申请号
PL19820234931
申请日期
1982.02.03
申请人
发明人
分类号
G01R;G01R31/25;H01J9/42;(IPC1-7):G01R31/25
主分类号
G01R
代理机构
代理人
主权项
地址
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