发明名称 Measuring system for the irradiation coming from the half-space.
摘要 <p>Bei einer Einrichtung zur Messung der aus dem Halbraum - entsprechend einem Raumwinkel 2&pi; - kommenden, elektromagnetischen Strahlung, die mit Hilfe mindestens eines unter einer strahlungsdurchlässigen Kalotte angeordneten, trägheitsarmen, hochempfindlichen Detektors gemessen wird, wobei das Wechsellicht-Verfahren angewendet wird, sind über der strahlungsdurchlässigen Kalotte zwei gleich- oder verschiedenartig ausgebildete, ineinander angeordnete, kalottensegmentförmige Modulatoren vorgesehen, von denen mindestens einer um die gemeinsame senkrechte Achse der beiden Modulatoren rotiert. Ferner können die zwei gleich- oder verschiedenartig ausgeführten Modulatoren um die gemeinsame Achse entweder mit gleicher oder unterschiedlicher Geschwindigkeit in gleicher Richtung oder auch gegenläufig rotieren. Durch die Anwendung des Wechsellicht-Vertahrens zur Messung der aus einem Raumwinkel von 2&pi; kommenden elektromagnetischen Strahlung kann im Unterschied zu dem bisher üblichen, in großem Umfang angewandten Gleichlichtverfahren eine erheblich höhere Meßgenauigkeit erzielt werden. Noch dazu kann bei Verwendung der zwei rotierenden, kalottensegmentförmigen Modulatoren die aus dem Halbraum kommende, elektromagnetische Strahlung erheblich trägheitsärmer als bisher gemessen werden.</p>
申请公布号 EP0168679(A2) 申请公布日期 1986.01.22
申请号 EP19850107750 申请日期 1985.06.22
申请人 DEUTSCHE FORSCHUNGS- UND VERSUCHSANSTALT FUR LUFT- UND RAUMFAHRT E.V. 发明人 LORENZ, DIETER, DR.
分类号 G01J1/02;G01J1/04;G01J5/00;G01J5/62;(IPC1-7):G01J1/04 主分类号 G01J1/02
代理机构 代理人
主权项
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