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发明名称 PROBE DEVICE FOR CIRCUIT TEST
摘要
申请公布号 JPS6114575(A) 申请公布日期 1986.01.22
申请号 JP19850037730 申请日期 1985.02.28
申请人 INTERN BUSINESS MACHINES CORP 发明人 MIHAERU ERUZAZEERU;ROORANDO SUTOORU
分类号 G01R1/073 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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