发明名称 PROCESS FOR MANUFACTURING INTEGRATED CIRCUITS COMPRISING MOS FIELD-EFFECT TRANSISTORS USING SILICON GATE TECHNOLOGY HAVING SILICIDE LAYERS ON DIFFUSION REGIONS AS LOW-OHMIC CONDUCTORS
摘要
申请公布号 EP0090318(A3) 申请公布日期 1986.01.15
申请号 EP19830102803 申请日期 1983.03.21
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHWABE, ULRICH. DR. PHIL.;NEPPL, FRANZ, DR.RER.NAT.;HIEBER, KONRAD, DR.
分类号 H01L29/78;H01L21/28;H01L21/285;H01L21/336;H01L21/768;H01L29/45;H01L29/49;(IPC1-7):H01L21/28 主分类号 H01L29/78
代理机构 代理人
主权项
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