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发明名称 SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE WITH TEST MODE TO MONITOR INTERNAL TIMING CONTROL SIGNALS AT I/O
摘要
申请公布号 KR100660071(B1) 申请公布日期 2006.12.22
申请号 KR20047019760 申请日期 2003.06.04
申请人 发明人
分类号 G11C7/22;G11C29/00 主分类号 G11C7/22
代理机构 代理人
主权项
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