PROCEDE ET DISPOSITIF POUR LE TEST RAPIDE DE CONDENSATEURS ET DE MATERIAUX DIELECTRIQUES

摘要

LA PRESENTE INVENTION CONCERNE UN PROCEDE ET UN DISPOSITIF DE TEST DE MATERIAUX DIELECTRIQUES ET EN PARTICULIER DE CONDENSATEURS. LE DISPOSITIF COMPREND UNE UNITE DE MESURE 300 RECEVANT L'ELEMENT A TESTER CX EN SERIE D'UNE IMPEDANCE DE REFERENCE DANS UNE CHAINE DE MESURE, UNE BASE DE TEMPS 100 APTE A APPLIQUER A LA CHAINE DE MESURE DES CRENEAUX REPETITIFS DE STIMULATION, DES MOYENS DE REMISE A ZERO DE LA TENSION AUX BORNES DE L'IMPEDANCE DE REFERENCE, AU COURS DE CHAQUE DEMI-ALTERNANCE INACTIVE DES CRENEAUX DE STIMULATION, UNE UNITE D'ECHANTILLONNAGE 400 QUI ECHANTILLONNE LA REPONSE A DES TEMPS DECALES PROGRESSIVEMENT PAR RAPPORT AUX CRENEAUX DE STIMULATION ET UNE UNITE DE TRAITEMENT 200 QUI ANALYSE LES ECHANTILLONS ETABLIS PAR L'UNITE D'ECHANTILLONNAGE POUR EN DEDUIRE LES PARAMETRES DE L'ELEMENT TESTE SELON UN MODELE DE FOSTER.