发明名称 |
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUITS CONTAINING COMPLEMENTARY METAL OXIDE SEMICONDUCTOR DEVICES. |
摘要 |
Un dispositif à circuit intégré CMOS, permettant d'éviter les blocages entre des FETs à canal n et à canal p faiblement écartés (90, 130) du dispositif, comprend une tranchée (150) empêchant les blocages, formée dans le substrat semi-conducteur (20) entre les FETs. La tranchée est pratiquement entièrement remplie d'un matériau diélectrique solide (160) essentiellement exempt de cavités provoquant des fissures, et elle est étroite, étant donné que l'angle entre la paroi latérale de la tranchée et une perpendiculaire à la surface du substrat (50) est supérieur ou égal à 5 degrés environ mais inférieur à 10 degrés environ. |
申请公布号 |
EP0158670(A1) |
申请公布日期 |
1985.10.23 |
申请号 |
EP19840903741 |
申请日期 |
1984.10.04 |
申请人 |
AT&T CORP. |
发明人 |
COQUIN, GERALD, ALLAN;LYNCH, WILLIAM, THOMAS;PARRILLO, LOUIS, CARL |
分类号 |
H01L21/763;H01L27/092;(IPC1-7):H01L27/08;H01L21/76 |
主分类号 |
H01L21/763 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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