发明名称 Method of producing a highly integrated circuit of MOS field-effect transistors.
摘要 Um eine spannungsfeste MOS-Schaltung für unterschiedliche Betriebsspannungen zu erhalten, wird durch zwei aufeinander abgstimmte Oxidationsschritte, zwischen welchen ein Ätzschritt liegt, ein Gateoxid erzeugt, das im Bereich eines ersten n-Kanal-Transistors dicker ist als im Bereich eines zweiten n-Kanal-Transistors. Ferner wird - in Kombination oder alternativ dazu - eine geschwindigkeitsoptimierte und spannungsfeste Schaltung durch unterschiedliche Implantationen der Source-Drain-Bereiche der beiden Transistoren erreicht.
申请公布号 EP0157926(A1) 申请公布日期 1985.10.16
申请号 EP19840115145 申请日期 1984.12.11
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 SCHEIBE, ADOLF, DR., ING. DIPL.-PHYS.
分类号 H01L27/092;C04B41/48;H01L21/8238;H01L29/423;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/82;H01L27/08;H01L29/60 主分类号 H01L27/092
代理机构 代理人
主权项
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