发明名称 |
Method of producing a highly integrated circuit of MOS field-effect transistors. |
摘要 |
Um eine spannungsfeste MOS-Schaltung für unterschiedliche Betriebsspannungen zu erhalten, wird durch zwei aufeinander abgstimmte Oxidationsschritte, zwischen welchen ein Ätzschritt liegt, ein Gateoxid erzeugt, das im Bereich eines ersten n-Kanal-Transistors dicker ist als im Bereich eines zweiten n-Kanal-Transistors. Ferner wird - in Kombination oder alternativ dazu - eine geschwindigkeitsoptimierte und spannungsfeste Schaltung durch unterschiedliche Implantationen der Source-Drain-Bereiche der beiden Transistoren erreicht.
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申请公布号 |
EP0157926(A1) |
申请公布日期 |
1985.10.16 |
申请号 |
EP19840115145 |
申请日期 |
1984.12.11 |
申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
SCHEIBE, ADOLF, DR., ING. DIPL.-PHYS. |
分类号 |
H01L27/092;C04B41/48;H01L21/8238;H01L29/423;H01L29/78;(IPC1-7):H01L21/82;H01L27/08;H01L29/60 |
主分类号 |
H01L27/092 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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