发明名称 Reactive ion etching of tin oxide films using silicon tetrachloride reactant gas
摘要 High resolution patterns can be etched in tin oxide films in one step using reactive ion etching when the reactant gas consists essentially of silicon tetrachloride (SiCl4).
申请公布号 US4544444(A) 申请公布日期 1985.10.01
申请号 US19840640938 申请日期 1984.08.15
申请人 GENERAL MOTORS CORPORATION 发明人 CHANG, SHIH-CHIA
分类号 C04B41/53;C04B41/91;H01L31/18;(IPC1-7):B44C1/22;C03C15/00;C03C25/06 主分类号 C04B41/53
代理机构 代理人
主权项
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