| 主权项 |
1.一种故障检出系统,供测试一印刷电路板等等上面之组件之性能,该系统包括:双向导电切换网路阵列,每个双向导电切换网路形成一个测试点,供达至受测试之印刷电路板之一节点而且可藉由各个切换网路之控制予以连至一激发源或达至一参考(例如接地)电位,而且同时达至一测量设备之对应的输入。2.如请求专利部份第1项所述之系统,其中该切换网路各包含一类比切换网路。3.如请求专利部份第1或2项所述之系统,其中该切换网路各包含四个双向导电类比开关,各双向导电类比开关含有一控制电极,可对此控制电极施加输入市决定各个开关之导电状况,该等开关中之第一个具有导电路径连接于一激发源端子与各个测试点之间,而且其控制电极连至第一个选择端子;该等开关中之第二个具有导电路径连接于该测试点与一参考(例如接地)电位端子之间,而且其控制电极连至第二个选择端子;该等开关中之第三个具有导电路径连接于该测试点与第一个测量端子之间,而且其控制电极连至第三个选择端子;而该等开关中之第四个具有导电路径连接于该测试点与第二个测量端子之间,而且其控制电极连至第四个选择端子。4.如请求专利部份第3项所述之系统,其中该第一値与该第三个选择端子被连接在一起,而该第二个与该第四个选择端子被连接在一起。5.如请求专利部份第3或4项所述之系统,其中该开关各含有双向类比传输闸。6.如请求专利部份第3或4或5项所述之系统,其中设有多工器供将该激发源与参考电位端子和该第一个与第二个测量端子选择地连至该切换网路;且其中,为使电晶体之增益能被估测,设有一开关设备,供根据该电晶体之极性型式选择该测量端子上之一个输出;设有组合设备,供将所选择之测量端子之输出与施加之电流相组合而形成一个基极输入送至该电晶体,而且设有多数个可选择之额外测试点,供将该基极输入送至一电晶体之基极,此电晶体之射极与集极连至各该切换网路所形成之测试点。7.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,包括资料处理设备,连至该切换网路阵列,俾提供控制输入,而选择地决定与各测试点关联之该切换网路之状态。8.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,包括开关设备,使多数个激发源能够选择地被连至切换网路阵列。9.如请求专利部份第7与8项所述之系统,其中该开关设备之操作系由该资料处理设备予以决定。10.如请求专利部份第8或9项所述之系统,其中该多数个激发源至少包含一DC电压源、一定电流源、与一可变频率信号产生器。11.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,其中该测量设备含有指示设备,供指示一组件之测量値对于一预定公差范围之关系。12.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,其中该测量设备含有:能够产生显示之设备,显示一受测组件或群对于测试激发源之反应。13.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,其中该测最设备含有特性辨认设备,响应于受测组件或组件群之施加预定激发源组合,而辨认一对应之响应,指示合格之组件或组件群。14.如前述请求专利部份任何一项所述之系统,含有:多数个探针构件,经安排以便接触于一印刷电路板之电路节点;一探针阵列,由安装于一电气绝缘持载体上之多数个探针予以构成;将该探针构件分别达至该探针之选择的一只探针用之连接设备;一连接器阵列含多数个连接器探针,包括多数个探针经安排以由该探针阵列之该探针之一只探针予以接触;以及,将该连接器探针达至该切换网路阵列所形成之各个测试点用之连接设备。15.如请求专利部份第14.项所述之系统,其中该连接器阵列之探针被安装于一印刷电路板等等之上形成多数列,而该切换网路系由积体电路设备构成,安装于该列之间而且达至该探针。16.如请求专利部份第14.或15.项所述之系统,其中该多数个探针构件被安装于第一个装置部件之内,此第一个装置部件亦充做该探针阵列之安装座,而且,该连接器阵列被安装于第二个装置部件,其安排系使得,在测试不同之印刷电路板时,该探针构件之不同的安排与该探针阵列之不同安排可被选择地与该第一个装置部件配合,而且与该第二个装置部件配合成为可操作之关系,无需将该第二个装置部件施加任何修改。17.如请求专利部份第16.项所述之系统,其中该第一个装置部件含有模组式组件,可被容纳于该第二个装置部件之一个容纳凹部内,致使得,该模组式组件之插入该凹部内促使该探针阵列之探针接触于该连接器阵列之各个探针。18.如请求专利部份第17.项所述之系统,其中该第一个装置部件含有牢固之矩形壳体,有一上表面形成一个容纳表面,供容纳受测试之电路板,该容纳表面可移动,以将容纳于其上之一受测试之电路板沿朝向该壳体内部之力向移动;该多数个探针构件含有弹簧加载之探针,被安装放在该容纳表面下之绝缘持载体上,其安装于绝缘持载体上之图样适于在该电路板如此移动时接触于该电路板之预定电路节点;该探针阵列被安装于该壳体之反对于该容纳表面之表面上,使诸该探针向内伸入该壳体内而且有头部可由该壳体之外部予以接近;以及,多数个导体,将该探针与伸入该壳体内之该探针阵列之选择的该探针互连;而且,让第二个装置部件含有:具有上部表面与底部表面之壳体,其上部表面中设有可容纳该第一个装置部件之凹部,而该连接器阵列被安装于其底部表面中,俾于第一个装置部件被插入该凹部内时,将该探针阵列介面连接;该连接器阵列含有多数个弹簧加载之探针,各探针可接触于该第一个装置部件中斯设之探针阵列之各个探针之头部。19.如请求专利部份第18.项所述之系统,其中该探针阵列与该连接器阵列上面设有配合作用之设备,俾于该第一个装置部件被插入第二个装置部件之凹部内时,两者靠拢在一起而形成精确之预定位置关系,该配合作用之设备包括一对锥形构件,各个锥形构件适合接合于一对孔中之一个孔。20.一种电气介面装置,用于使受测试之电路板电气连接至测试设备,该介面装置包括:可与受测试电路板之各个电路节点相接合之多数个电气探针,诸探针于一持载体上之安排系配合该电路板之设计而决定,以当该电路板与该持载体被置于相互并列之预定位置时,达成两者之接合;一探针阵列,含有安装于电气绝缘座上之多数个端子脚;将该探针连至该端子脚之个别之一个端子脚用之连接设备;一连接器阵列,含有安装于一电气绝缘座上之多数个连接器端子,各该连接器端子被安排,以当该探针阵列与该连接器阵列相互靠拢于预定之并列位置时,由该端子脚一一接触;该连接器端子被安装于印刷电路板等等之上,而构成该测试设备或其部件之积体电路设备系被安装于该电路板等等之上而且与该连接器端子相连,此安排因此确保该连接器端子与该积体电路设备之间有短的引线长度。21.含有如请求专利部份第20.项所述电气介面装置之电气测试设备,该设备包含:第一个模组式装置部件与形成有凹部可容纳该第一个模组式部件之第二个装置部件;该第一个模组式部件具有容纳一受测电路板用之容纳表面与用以使该容纳表面上之电路板与该多数个探针之间有相对移动而使该探针接合于该电路板之电路节点用之设备;该探针被加载有弹簧,而该探针阵列被安装于该第一个模组装置部件之另一表面上,使该探针之头部可于该另一表面上被接近,俾与该连接器阵列之该连接器端子一一接合,该第二个装置部件具有安装于该凹部表面上之该连接器阵列,而该连接器阵列含有安装于一绝缘持载体上之多数个弹簧加载端子脚。22.一种电路板故障测定装置,包含:多数个双向导电切换网路,各切换网路可被控制而将一测试点连至一激发源或一参考源,且同时连至一测量设备;一壳体部件,含有该激发源与参考源和该测量设备,且进一步含纳资料处理设备,可在软体控制下操作而决定该切换网路之操作,而受测试之电路板可被容纳于一模组式单元之容纳表面上,该模组式单元可卸除地容纳于该壳体之凹部内,该容纳表面具有可触接于该电路板之电路节点用之多数个探针,而且,一两件式介面连接器有一部件设于该模组式单元上而有另一部件设于该凹部中之该该体部份上,该一连接器部件含有一探针阵列,其中选定之探针被连至该探针之个别的探针,而该另一连接器部件含有一连接器阵列,其中各连接器于该模组式单元被插入该壳体凸部内时可与探针阵列之探针一一接合,各该连接器构成一个测试点而且被连至该切换网路之个别的一个切换网路。23.一种电路板故障检出装置,包含:形成凹部供容纳一电路板容纳模组用之壳体;可卸除地容纳于该凹部内之电路板容纳模组;该电路板容纳模组具有一容纳表面供容纳一电路板,而且含有多数个电气探针,安装于一绝缘持载体上,其安排系使得,其本身被预定触接该电路板之电路节点,而且,第一个介面连接器部件含有探针阵列,其中被选择之探针一一被达至该探针,该第一个介面连接器部件可由该容纳模组之外部予以接近;该凹部中设有第二个介面连接器部件,此第二个介面连接器部件含有连接器阵列,具有多数个连接器探针,当电路板容纳模组被容纳于该凹部内时,连接器探针可一一接合于该探针阵列之探针;各该连接器探针构成该装置之一测试点,供经由该第一个介面连接器部件连至受测试之电路板之一个电路节点;一个双向导电切换网路阵列,设于该壳体中,而且各达至一个连接器探针,而使之可选择地达至一激发源或一参考电位且同时连至一测量设备之输入;于该壳体内供形成该激发源与该参考电位且供提供该测量设备用之设备;以及,于该壳体内之资料处理设备,俾将软体控制之输入提供至该切换网路,俾选择地决定该切换网路之状态,诸切换网路经由该第一个与第二个介面连接器部件且经由该探针而连至受测试之电路板之电路节点,以便将预定之电气浏发源送至连接于该节点之电路组件,俾测定此电路组件之性能。24.一种故障检出系统,实质上加说明书参照附图之图3至7所叙述者。25.如前述请求专利部份任何一项所述之故障检出系统,其中该系统之实体配置实质上如说明书参照附图之图8与图9所叙述者。 |
