| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR CHARGING AND COMPENSATING IMPROPER CONDUCTIVE SAMPLE IN CASE OF ANALYZING SECONDARY ION MASS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS60180049(A) |
申请公布日期 |
1985.09.13 |
| 申请号 |
JP19850016395 |
申请日期 |
1985.01.30 |
| 申请人 |
SIEMENS SCHUCKERTWERKE AG |
发明人 |
RORUFU FUON KURIIGERUN;INGO WAITSUERU |
| 分类号 |
G01N23/225;H01J37/02;H01J37/252;H01J37/256 |
主分类号 |
G01N23/225 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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