| 发明名称 |
AFTASTENDE ELEKTRONENMICROSCOOP VOOR HET WEERGEVEN VAN EEN DOORGELATEN ELEKTRONENBEELD. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
NL177161(C) |
申请公布日期 |
1985.08.01 |
| 申请号 |
NL19740009907 |
申请日期 |
1974.07.23 |
| 申请人 |
NIHON DENSHI KABUSHIKI KAISHA TE AKISHIMA, JAPAN. |
发明人 |
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| 分类号 |
H01J37/22;H01J37/244;H01J37/28;(IPC1-7):H01J37/28 |
主分类号 |
H01J37/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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