STRAHLUNGSMESSGERAET UND UNTER VERWENDUNG DESSELBEN AUSGEBILDETES, AUS EINEM DER STRAHLUNG AUSGESETZTEN MESSGERAET UND EINEM GEGEN DIE STRAHLUNG ABGESCHIRMTEN REFERENZGERAET BESTEHENDEN MESSSYSTEM
摘要
申请公布号
DE3408724(A1)
申请公布日期
1985.07.25
申请号
DE19843408724
申请日期
1984.03.09
申请人
MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V., 3400 GOETTINGEN, DE
发明人
BETZLER, PETER, 8000 MUENCHEN, DE;MAST, KARL-FRIEDRICH, DR., 8046 GARCHING, DE
