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发明名称
METHOD OF MEASURING OF SURFACE RESISTANCE FOR HIGH RESISTANT AND SEMIINSULATING SEMICONDUCTING MATERIALS
摘要
申请公布号
CS237272(B1)
申请公布日期
1985.07.16
申请号
CS19830003903
申请日期
1983.06.01
申请人
DEML,FRANTISEK,CS
发明人
DEML,FRANTISEK,CS
分类号
G01R27/08;G01R33/12;(IPC1-7):G01R27/08
主分类号
G01R27/08
代理机构
代理人
主权项
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