发明名称 MASK FOR OBTAINING TEXTURIZED PATTERNS IN RESIST LAYERS USING X-RAY LITHOGRAPHY, AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
摘要 <p>A mask for X-ray lithography is formed of a multilayer diaphragm with a patterned absorber layer on the diaphragm. The diaphragm includes a layer of magnesium and at least one intermediate layer.</p>
申请公布号 EP0104685(A3) 申请公布日期 1985.07.03
申请号 EP19830201242 申请日期 1983.08.31
申请人 PHILIPS PATENTVERWALTUNG GMBH;N.V. PHILIPS' GLOEILAMPENFABRIEKEN 发明人 LENTFER, ARNO;LUTHJE, HOLGER
分类号 G03F1/22;G03F7/20;H01L21/027;(IPC1-7):G03F1/00 主分类号 G03F1/22
代理机构 代理人
主权项
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