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<p>Procédé de diagnostic électrique pour identifier le rang P d'une cellule défectueuse dans une chaîne de N cellules d'un registre à décalage formant une chaîne LSSD (Level Sensitive Scan Design) dans un élément fonctionnel, chaque cellule étant constituée par une bascule bistable du type maître-esclave. Une telle cellule étant du genre comportant une bascule maître L1 munie de ses entrées données (Data In) DI, (Scan Data In) SDI et horloge A, C et une bascule esclave L2 munie de son entrée horloge B, chaque cellule étant associée de façon connue à un bloc de logique combinatoire, selon la technique LSSD. Ce procédé étant caractérisé par les ètapes suivantes. a) la mise dudit élément fonctionnel défectueux dans un mode statique tel que le mode FLUSH : c'est-à-dire, A = 1, B = 1, C = 0 et application d'une donnée sous la forme d'une impulsion carrée sur l'entrée SDI, b) la visualisation des variations du courant d'alimentation Idd de l'élément fonctionnel dues à la propagation de ladite donnée, le long de la chaîne, jusqu'à ce qu'elle atteigne la sortie SDO, c'est-à-dire sa signature, c) la detection d'une variation de courant nulle (Idd = constant) indiquant que la cellule qui vient d'être chargée par ladite donnée, est défectueuse et d) la détermination du rang P de cette cellule. La détermination de P peut se faire soit manuellement, soit automatiquement. Sur la figure jointe, on a représenté la signature de deux éléments fonctionnels l'un reconnu bon (référence A) et l'autre défectueux (référence B). En effet, la signature de ce dernier est plate à compter de la 21ème cellule (P = 21), ce qui indique cette dernière présente un défaut. L'étalonnage de la courbe de référence A peut se faire empiriquement.</p> |
