| 发明名称 |
INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS60121736(A) |
申请公布日期 |
1985.06.29 |
| 申请号 |
JP19840118976 |
申请日期 |
1984.06.08 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INC |
发明人 |
DAGURASU EE BUOORU;DEIIN ENU MAIZU;JIYOON DABURIYU PATSUSHIYURU;ROBAATO EMU WARASU |
| 分类号 |
H01L21/66;G01R1/073;G01R31/28 |
主分类号 |
H01L21/66 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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