| 发明名称 |
PROBE FOR INSPECTING DEFECT OF MATERIAL TO BE INSPECTED |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS60111957(A) |
申请公布日期 |
1985.06.18 |
| 申请号 |
JP19840224294 |
申请日期 |
1984.10.26 |
| 申请人 |
WESTINGHOUSE ELECTRIC CORP |
发明人 |
DANIERU II KURINBATSUKUSU |
| 分类号 |
G01N29/04;G01N29/265;G21C17/003 |
主分类号 |
G01N29/04 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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