发明名称 Device for testing and sorting of electronic components, especially of integrated circuits.
摘要 <p>Bei einer Vorrichtung zum Aufnehmen von Bauteilen (8', 8", 8&tprime;), insbesondere von integrierten Chips, in Aufnahmen (15, 19, 20, 21, 22) eines Eingangs- und/oder Ausgangsmagazins einer Bauteile-Prüfmaschine mit einer Prüfeinrichtung sind die Aufnahmen jeweils dadurch gebildet, daß pro Aufnahme in einer Tragplatte (14) Nuten (16, 17) in einem dem unterschiedlichen Abstand von Bauteileanschlüssen der zu erfassenden Bauteile entsprechenden Abstand vorgesehen sind.</p>
申请公布号 EP0143990(A1) 申请公布日期 1985.06.12
申请号 EP19840113098 申请日期 1984.10.31
申请人 MULTITEST ELEKTRONISCHE SYSTEME GMBH 发明人 HEIGL, HELMUT, DR.
分类号 B07C5/344;H01L21/00;H05K13/02;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 B07C5/344
代理机构 代理人
主权项
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