| 主权项 |
1.侦测一细长,纵向可移动构件端部位置之装置,包括:复数个被间隔开,不连续的电线圈该细长构件依序地纵向移动通过线圈并且如此做,变化每一线圈之感应当它从那里通过;连接该些复数个线圈成组之装置其每一组包括并联相同数目之该些线圈之第一群和第二群,此两群线圈串于一共波节,在任何特定组之线圈没有一个邻接于组内之任何其他线圈,组数至少相等于一组内之线圈数;一对阻抗元件串联于一共波节;一交流电源连接横过该些线圈组和该对阻抗;其特征为输出信号产生装置连接于该对阻抗元件之共波节和每一该些线圈组之共波节之间,该对阻抗之阻抗比与第一群中每一线圈阻抗对每一组之第二群中每一线圈阻抗之比为相同的,该输出信号产生装置感应于藉该细长构件端部贯穿线圈所产生之每一线圈内阻抗之连续改变以产生代表有关该线圈之该细长构件端部位置之输出信号。2.如请求专利部份第1项之装置其中每一线圈为实质地类似并且其中每对阻抗为实质地类似。3.如请求专利部份第2项之装置其中该输出信号产生装置产生一二进位格雷电码输出信号。4.如请求专利部份第3项之装置其中输出信号产生装置包括复数个运算放大器其每一个具有一连接至该对阻抗共波节之输入和连接至一组线圈共波节之一第二输入。5.如请求专利部份第3项之装置其中该线圈被排列于该些组内所以该细长构件之端部交替地通过一组之二群中之线圈并通过在通过任何特定组内两线圈之间之另一组内之一线圈。6.如请求专利部份第5项之装置其中该输出信号产生装置包括:产生d—c信号代表在每一组线圈共波节上所产生之一信号和在该对阻抗共波节上所产生之一参照信号之间之平均讯差之装置;产生了临限信号代表一线圈阻抗之改变之装置由于该细长构件端部贯穿一线圈之一被选择之程度;及用以比较每一d—c信号和临限信号之装置并替每一d—c信号产生一値之数位式输出信号当d—c信号超过临限値,和另一値当其不超过时。7.如请求专利部份第6项之装置其中产生该临限信号之该装置包括产生一临限信号以变化其値做为被选择周围状况之一函数之装置。8.如请求专利部份第7.项之装置其中该临限信号产生装置包括第一和第二附加线圈被串联于一共波节和被按装在该细长构件端部行程范围外所以该细长构件时常贯穿该第一附加线圈并且从未贯穿第二附加线圈,和被连接至该些附加线圈共波节和该对阻抗共波节之装置以产生该临限信号以做为在此两个共波节上所产生之信号之间的讯差之一函数。9.如请求专利部份第6项之装置其中被细长构件贯穿之一线圈之被选择程度大约为一半的路径。10.如请求专利部份第5项之装置其中每一群线圈包括两个线圈。11.如请求专利部份第5项之装置其中每一群线圈包括一个线圈。 |
