| 摘要 |
<p>Pour réaliser un dispositif de test aléatoire de circuits logiques, notamment de microprocesseurs, il est nécessaire d'utiliser un dispositif de transformation de la probabilité d'apparition de vecteurs logiques, pour produire des séquences de vecteurs à probabilités variables dans le temps. UN tel dispositif comporte une mémoire ou un circuit équivalent à laquelle sont appliqués des vecteurs logiques d'entrée (Ve1, Ve2... Ven) ayant des probabilités d'apparition respectives différentes ou égales et contenant, dans des zones respectives d'étendues différentes, les différentes catégories de vecteurs de sortie (Vs1, Vs2... Vsi). De cette façon la probabilité d'apparition d'un vecteur de sortie déterminé (Vs1, Vs2... Vsi) dépend à la fois de l'étendue de la zone de mémoire dans laquelle ce vecteur est stockée, c'est-à-dire du nombre de positions élémentaires ou octets qu' englobe cette zone, et des probabilités respectives (pr1, pr2... prn) des vecteurs d'entrée (Ve1, Ve2... Ven) correspondant aux adresses des positions élémentaires (m1, m2... mn) de la zone de mémoire considérée.</p> |
