发明名称 SETT ATT MINSKA KRISTALLOGRAFISKA DEFEKTER I ETT HALVLEDARORGAN
摘要 In order to reduce the number of crystallographic defects in the fabrication of a semiconducting solid-state device, a semiconductor wafer is used having a principal orientation plane aligned parallel to one of the crystallographic <001> directions lying in the main plane of the wafer.
申请公布号 SE8501967(D0) 申请公布日期 1985.04.23
申请号 SE19850001967 申请日期 1985.04.23
申请人 RCA CORPORATION 发明人 L L * JASTRZEBSKI
分类号 H01L21/02;H01L29/04 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
地址