VERFAHREN ZUM RASCHEN MESSEN VON ELEKTRISCHEN SIGNALEN AN SCHALTUNGSKNOTEN INTEGRIERTER SCHALTUNGEN, BEI DEM AUCH STOERSIGNALE ERFASST WERDEN, UND VORRICHTUNG ZUR DURCHFUEHRUNG EINES SOLCHEN VERFAHRENS,申请号DE19833334530-传众专利搜索

发明名称	VERFAHREN ZUM RASCHEN MESSEN VON ELEKTRISCHEN SIGNALEN AN SCHALTUNGSKNOTEN INTEGRIERTER SCHALTUNGEN, BEI DEM AUCH STOERSIGNALE ERFASST WERDEN, UND VORRICHTUNG ZUR DURCHFUEHRUNG EINES SOLCHEN VERFAHRENS
摘要
申请公布号	DE3334530(A1)	申请公布日期	1985.04.04
申请号	DE19833334530	申请日期	1983.09.23
申请人	SIEMENS AG	发明人	FAZEKAS,PETER,DIPL.-ING.
分类号	G01R31/28;G01R31/302;G01R31/305;(IPC1-7):G01R31/26;H01L21/66	主分类号	G01R31/28
代理机构		代理人
主权项
地址