发明名称 METHOD FOR MEASURING CAPACITY VALUE OF SEMICONDUCTOR VARIABLE CAPACITY ELEMENT
摘要
申请公布号 JPS6055272(A) 申请公布日期 1985.03.30
申请号 JP19830163578 申请日期 1983.09.06
申请人 SEIKO DENSHI KOGYO KK 发明人 MATSUZAKI RIYUUICHI
分类号 G01R31/26;G01R27/26;G04G3/00 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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