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发明名称 DEVICE FOR CHECKING SEMICONDUCTOR DIODE ELECTRICAL PARAMETERS
摘要
申请公布号 SU1138768(A1) 申请公布日期 1985.02.07
申请号 SU19833655098 申请日期 1983.10.20
申请人 MURTAZIN AUKHAT M,SU;GABOV VLADIMIR,SU;KARASEV VALERIJ P,SU 发明人 MURTAZIN AUKHAT M,SU;GABOV VLADIMIR I,SU;KARASEV VALERIJ P,SU
分类号 G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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