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发明名称
APPARATUS FOR MEASURING OF THICKNESS OF REINFORCED LAYERS
摘要
申请公布号
CS232025(B1)
申请公布日期
1985.01.16
申请号
CS19820003792
申请日期
1982.05.24
申请人
BATIK,JAN,CS
发明人
BATIK,JAN,CS
分类号
G01B5/00;(IPC1-7):G01B5/00
主分类号
G01B5/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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