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发明名称
TEMPERATURE PATTERN DISTRIBUTION MEASURING METHOD
摘要
申请公布号
KR1019840002371(B1)
申请公布日期
1984.12.24
申请号
KR1019810000671
申请日期
1981.03.02
申请人
发明人
分类号
主分类号
代理机构
代理人
主权项
地址
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