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Für integrierte Digitalschaltungen mit redundanten Schaltungsteilen, insbesondere für Halbleiterspeicher mit redundanten Zeilen und Spalten, ist es nach dem Einsatz der Redundanz erwünscht, den Baustein von solchen Bausteinen unterscheiden zu können, bei denen ein solcher Einsatz noch nicht erfolgt ist. Hierzu dient die Erfindung, indem sie ermöglicht, über denselben Signaleingang (A) sowohl die für den Normalbetrieb dienenden Signale als auch Signale für den Testbetrieb in die Schaltung einzugeben, wobei sich die Testsignale von den anderen Signalen durch einen überhöhten Signalpegel unterscheiden. Die erfindungsgemäße Schaltung hat einen durch Auftrennen einer leitenden Verbindung (FL) zu aktivierenden Schaltungsteil, der dann die auf den Eingang gegebenen Signale aufgrund ihrer Pegel voneinander unterscheidet und aufgrund von Signalen mit überhöhtem Pegel sekundäre Signale (ØR) erzeugt, die dann zur Steuerung für den Testbetrieb vorgesehen sind.
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