| 摘要 |
processo de teste termográfico e dispositivo de teste para a realização do processo de teste. a presente invenção refere-se a um processo de teste termográfico para a detecção e identificação com resolução localizada de defeitos próximos da superfície em um objeto testado, uma área da superfície do objeto testado será aquecida, por exemplo, de forma indutiva. será registrada uma sequência de imagens termográfica subsequentes em distância temporal e dentro de uma fase de expansão térmica, sendo que cada imagem termográfica representa uma distribuição de temperatura localizada em uma área superficial do objeto testado, registrada pela imagem termográfica. a partir das imagens termográficas serão determinados perfis de temperatura alocados á posição correta, sendo que cada perfil de temperatura, alocado á posição correta, é alocada á mesma região de medição da superfície do objeto testado. para uma variedade de posições de medição da área de medição, captadas pelo perfil de temperatura, serão depois determinadas percursos temporais de valores de temperatura a partir dos perfis de temperatura. estes serão avaliados ao menos de acordo com um critério de avaliação que caracteriza o fluxo térmico na região da medição. o processo leva em conta o fluxo térmico na região de defeitos correspondentes e oferece, em comparação com sistemas convencionais, melhor suspensão de interferência e um grau de seletividade aprimorado entre defeitos reais e pseudodefeitos. |
