AUTOMATED TEST SYSTEM WITH EVENT DETECTION CAPABILITY

摘要

반도체 장치 테스트를 위해 자동 테스트 시스템에서 구현될 수 있는 테스트 기술. 상기 테스트 기술은 파형과 그 이벤트의 타이밍내에서 에지와 같은 신호 천이의 빠른 검출을 가능하게 할 수 있다. 빠르고 유연하게 프로그래밍될 수 있는 디지털 기기 내의 회로는 적어도 부분적으로 상기 테스트 기술을 구현할 수 있다. 상기 회로는 상기 기술의 적용이 더 빠른 테스트 개발 및 더 빠른 시간을 가져올 수 있도록 테스트 파라미터로 간단히 프로그래밍될 수 있다. 동작시, 그 회로는 신호 천이를 검출하기 위해 상기 파형의 샘플들이 취해지는 파형에 대한 창의 파라미터를 규정하는 파라미터들을 수신한다. 상기 회로는 원하는 시간에 프로그래밍된 수의 샘플들을 취하기 위해 에지 생성기 또는 핀 전자기기와 같은 테스트 시스템 내에서의 기타 컴포넌트를 위한 제어 신호로 이들 파라미터들을 변환할 수 있다.