| 发明名称 |
UN DISPOSITIVO PARA MEDIR EL TIEMPO DE VIDA DE LOS PORTADORES EN OBLEAS SEMICONDUCTORAS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
ES525877(D0) |
申请公布日期 |
1984.10.01 |
| 申请号 |
ES19770005258 |
申请日期 |
1983.09.23 |
| 申请人 |
EXXON RESEARCH AND ENGINEERING COMPANY |
发明人 |
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| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/265;H01L21/66;(IPC1-7):01L31/18 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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